직  무

직 무 개 요

TEM을 이용한 유/무기

재료 및 소자 구조 분석

– TEM 장비의 운용 및 과제 분석지원

– 유/무기 소재와 나노소자의 미세구조 및 미세구조/결정구조/원자구조/

화학구조 분석

SEM 및 EPMA를 이용한

유/무기 재료 및 소자

구조 분석 (SEM-EBSD/ EPMA-SXES)

– SEM-EBSD 및 EPMA-SXES 장비의 운용 및 과제 분석지원

– 유/무기 소재 및 나노소자의 미세구조/결정구조/화학구조 분석

Atom Probe Tomography를

이용한 재료/소자 성분분석 (APM)

– Electrical/Optical소자 및 재료의 3차원 element mapping 분석

– FIB를 이용한 유/무기 시편 제작 기술

– TEM 및 SIMS 경험자 우대

Defect/ charge transport 분석 (DLTS / Photoconductance decay)

– 물리/재료 기반의 DLTS등 material 내의 energy trap(defect) 분석

(semiconductor material, QD, LED, OLED, battery용 시료에 대한

  Defect analysis)

유·무기 표면/계면 분석

(XPS/UPS, AES)

– 물리/화학 기반의 XPS/UPS, AES 등 표면분석 신분석 기술 연구

– 유/무기 재료 및 device의 In-situ 표면분석

Solid state NMR을 이용한

유/무기 재료 및 Device 관련 연구

– 고체NMR 을 이용한 신분석 기술 연구 및 UHF NMR장비 운용

– Ultra High field NMR경력자 및 고체 NMR 관련 박사 학위 소지자

– 전자 재료 관련 경력 (ex. OLED, metal oxide, or Battery

  material) 우대

– Simulation 를 이용한 연구가 가능한 자 (ab Initio Molecular

  Dynamics, ab Initio Calculation of NMR Shifts 등)

HPLC를 이용한 Total Analysis

– High performance liquid chromatography (HPLC)을 이용한 유기

  소재 물질 연구 및 물질 변성 메커니즘 규명.

– HPLC의 다양한 검출기 사용 경험자 (RI, PDA, FD,

  Electrochemical detector, ELSD, Conductivity detector, Mass

  spectrometry)

– 화합물의 변성 연구 경험자(OLED, Surfactants, Polymer, 등)

ICP를 이용한 유/무기 재료

극미량 성분분석 (ICP-MS, ICP-AES)

– 유기재료(polymer, 고분자등) 촉매 또는 극미량 첨가제 분석

– Battery, 자성 재료 구성 성분분석 및 미량 첨가제 분석

지원서 작성

– 삼성채용홈페이지(www.samsungcareers.com)에 로그인

– [종합기술원] 분석기술 R&D 분야 경력사원 채용 공고 선택 후

  지원서 작성

  ※ 계정이 없으신 분들은 먼저 회원가입을 완료하시기 바랍니다.

입사지원서 등록

– 반드시 삼성커리어스에 첨부된 입사지원서 다운로드 후 작성

– 지원서 【Essay】 화면의 세부이력서에 입사지원서를 등록

지원서 제출

– 2013년 5월 28일(화) ~ 2013년 6월 10일(월) 17:00까지 제출완료

   지원서 접수  ▶  서류 전형  ▶  면접 전형  ▶  채용 건강검진  ▶  최종합격